XULM240菲希爾鍍層測厚儀

XULM240菲希爾鍍層測厚儀

Fischer xulm 240菲希爾X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著(zhù)出色的精-確性以及長(cháng)期的穩定性，這樣顯著(zhù)減少了校準儀器所需要的時(shí)間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的基本參數法，可以在沒(méi)有校驗標準片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測量樣品的鍍層厚度。菲希爾Fischer xulm 240

x射線(xiàn)鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線(xiàn)管以及可電動(dòng)切換的視準器和基本濾片，因此更適合對微小型工件進(jìn)行測量。

菲希爾X射線(xiàn)鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術(shù)規格：

1、單性金屬鍍層厚度測量。

2、合金鍍層厚度測量。

3、雙鍍層厚度測量。

4、雙鍍層（其中一層是合金）厚度測量。

5、三鍍層厚度測量。

6、測量小區域：測量點(diǎn)大小約0.09x0.09 mm。

6、測量厚度精度：當Au厚度大于0.1μm時(shí)，有標準片校準情況下<±5%,無(wú)標準片校準情況下<±10%。

測量厚度精度=（測試10次的平均值-真值）÷真值×（真值為校驗標準片證書(shū)顯示值，測試點(diǎn)為同一點(diǎn)）

儀器波動(dòng)率：COV＜5%