菲希爾X射線(xiàn)測厚儀介紹

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線(xiàn)測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。菲希爾X射線(xiàn)測厚儀其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動(dòng)測量樣品的理想設備。

XDV-SDD菲希爾X射線(xiàn)測厚儀設計為界面友好的臺式測量?jì)x器。菲希爾X射線(xiàn)測厚儀它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動(dòng)的Z軸升降臺。菲希爾X射線(xiàn)測厚儀當具有防護功能的測量門(mén)開(kāi)啟時(shí)，樣品臺能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。通過(guò)激光點(diǎn)，可以快速對準需要測量的位置。菲希爾X射線(xiàn)測厚儀儀器內置帶有圖像放大及十字線(xiàn)功能的視頻系統，簡(jiǎn)化了樣品放置的過(guò)程，并可對測量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調。

所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過(guò)功能強大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。

XDV-SDD最多可同時(shí)測定從鋁（13）到鈾（92）中的24 種元素

測量門(mén)向上開(kāi)啟的臺式儀器，側面開(kāi)槽設計

馬達驅動(dòng)、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺 

馬達驅動(dòng)、可切換的準直器和基本濾片。