Fischer|菲希爾X射線(xiàn)測量原理

Fischer|菲希爾X射線(xiàn)測量原理

這就是測量是如何進(jìn)行的

當X射線(xiàn)設備開(kāi)始測量時(shí)，X射線(xiàn)管會(huì )發(fā)出高能輻射，這也被稱(chēng)為‘初級’輻射。當這些X射線(xiàn)擊中樣品中的一個(gè)原子時(shí)，它們會(huì )增加能量–即它們“激發(fā)"原子 - 使原子向其原子核附近發(fā)射電子，這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“電離"。由于這種狀態(tài)是不穩定的，一個(gè)來(lái)自更高電子層的電子移動(dòng)來(lái)填充空隙，從而發(fā)射出“熒光"輻射。

這種二次輻射的能量水平類(lèi)似指紋一樣：它是每個(gè)元素的特征。探測器接收熒光并將信號數字化。在信號經(jīng)過(guò)處理后，設備產(chǎn)生一個(gè)光譜：檢測到的光子的能級在x軸上繪制，其頻率（計數率）在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置（x軸方向）來(lái)識別。這些峰的水平（y軸方向）提供了有關(guān)元素濃度的信息。