操作說(shuō)明:
去除被測量物及表面的油和塵土。
使用Mikrotest G、F、Galvanotest型(自動(dòng)式)
先反時(shí)針旋轉度盤(pán)(圖1中6)到底,將麥考特與被測表面平行靠緊。此時(shí),按按鈕8(圖1中8)此時(shí),讀數即為厚度值。
在度盤(pán)旋轉過(guò)程中,不要碰按鈕8
蕞終厚度值應是技術(shù)數據表中所列的公差范圍的綜合考慮,并通過(guò)多點(diǎn)測量得到平均值。
如:200um ? 5%
平面測量
測量面的位置對于測量結果無(wú)影響,注意技術(shù)數據表中所列的蕞小測量范圍和基體的厚度。
彎面測量
在測量柱體或圓形邊緣時(shí),利用儀器上的V型部分,將儀器如示意圖6放置,測量凹畫(huà)時(shí)與測量平面相同,但要注意蕞小曲率的限制。
粗糙表面測量
在粗糙表面測量時(shí),讀數將增大(特別是在顆粒尖上)在特別粗糙(如峰值超過(guò)50um)的鋼基體上,并且涂層厚度超過(guò)100um時(shí),實(shí)際讀數高于涂層真實(shí)厚度達20%之多。在這種情況下,平均值的讀取至少應測5個(gè)以上。