TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度儀

TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度儀

TAYLOR HOBSON SURTRONIC S116粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀行業(yè)標準和可追溯性-所提供的標準能夠用于校正儀器和檢查測針磨損，以確?？偰軌虻玫?準確的測量結果。

測量         最佳測量能力

粗糙度標準(Ra)    ±(2% + 0.004 μm)

工件或者元件表面(Ra)  一次測量值±3%

Surtronic S100系列S116、S128泰勒粗糙度儀技術(shù)參數

泰勒霍普森粗糙度儀測量范圍S116：200μm

 S128：400μm

Surtronic S128分辨率5nm

泰勒霍普森粗糙度測量?jì)x傳感器類(lèi)型電感

泰勒霍普森代理鉆石尖半徑缺省5μm 可選2μm、10μm

Surtronic S116觸摸屏4.3英寸 彩色

Surtronic S116觀(guān)察方向隨意變換

Surtronic S116取樣長(cháng)度0.25、0.8、2.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀濾波器2CR或GAUSS

泰勒霍普森粗糙度儀測量行程0.25-25.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀接口USB，miniUSB

電源鋰電池

一次充電可以測量2000次

無(wú)錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量?jì)x器、無(wú)損檢測、實(shí)驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類(lèi)型的測試設備,努力為客戶(hù)解決快速分析的測量技術(shù)挑戰,聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現既定目標。