Surtronic S116

　   Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度儀測試參數：

　　三個(gè)取樣長(cháng)度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

　　二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian

　　評定長(cháng)度：0.25mm-12.5mm(0.01in-0.49in)可選

　　Surtronic S116大行程：17.5mm

　　測試速度：

　　測試速度：1mm/sec(0.04in/sec)

　　回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

　　測試參數：

　　執行標準：ISO4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1,JIS0601,N31007

　　ISO標準可以測量12個(gè)參數：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,Rpc,RSm,Rz1max

　　ASME標準可以測量11個(gè)參數：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rdq,RSm,Rpm,Rda

　　JIS標準可以測量14個(gè)參數：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,RSm,RzJIS,Rc,Rku,Rdc

　　其他：R3z(DaimlerBenz)

　　測試單位：um/uin

　　無(wú)錫駿展儀器有限責任公司的產(chǎn)品和系統解決方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車(chē)制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學(xué)和其他研究實(shí)驗室和生產(chǎn)線(xiàn),質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質(zhì),先進(jìn)制造技術(shù)的驅動(dòng)精益求精。