菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischer代理

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菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線(xiàn)測厚儀/光譜測厚儀/射線(xiàn)鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230設計理念：

1，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶(hù)界面友好的臺式測量?jì)x器。手動(dòng)操作的X-Y工作臺，馬達驅動(dòng)的 Z 軸系統。

2，高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀(guān)察測量過(guò)程和進(jìn)度。

3，測量箱底部的開(kāi)槽是專(zhuān)為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長(cháng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

4，帶有放大功能和十字線(xiàn)的集成視頻顯微鏡簡(jiǎn)化了樣品擺放，并且允許測量點(diǎn)的精-確調整。

5，所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過(guò)功能強大而界面友好的 WinFTM軟件在電腦上完成。

6，XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規的規定。

菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線(xiàn)測厚儀/光譜測厚儀/射線(xiàn)鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL 230基本應用：

1，鍍層厚度測量

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

電路板上較薄的導電層和/或隔離層

復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

2，材料分析

電鍍槽液分析

電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析

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