貴金屬鍍層厚度測量

貴金屬鍍層厚度測量

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線(xiàn)熒光光譜儀。它是從大眾認可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類(lèi)似，它尤其適合無(wú)損測量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測量大規模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板。

比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本參數法，無(wú)論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行分析和測量?？蓽y量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)

XDL型X射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器

XDL系列儀器特別適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控

Fischer X射線(xiàn)測厚儀典型的應用領(lǐng)域有:

測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

測量薄鍍層，例如裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層全自動(dòng)測量，如測量印刷線(xiàn)路板

分析電鍍溶液

貴金屬鍍層厚度測量