Fischer X射線(xiàn)鍍層測厚儀

Fischer X射線(xiàn)鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線(xiàn)光譜儀，主要用于無(wú)損厚度測量和成分析。

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了

Fischerscope X-RAY XUL型X射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

本款儀器特別適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischerscope X-RAY典型的應用領(lǐng)域有：

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischerscope X-RAY在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

在連接器和電氣元件上的測量

電鍍液的溶液成分分析

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量?jì)x器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動(dòng)的 Z 軸系統。

XDL 230 型配有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動(dòng)的 Z 軸升降系統。

XDL 240 型則配備了馬達驅動(dòng)的 X/Y 工作臺，當保護門(mén)開(kāi)啟時(shí)，工作臺會(huì )自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達驅動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統。