菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischer X-RAY

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischer X-RAY

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237菲希爾X射線(xiàn)測厚儀典型的應用領(lǐng)域有：

•  分析小于 的超薄鍍層

•  測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

•  測定復雜的多鍍層系統

•  全自動(dòng)測量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域

•  分析焊錫中鉛含量

•  配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀參數：

1、通用規格

設計用途：能量色散X射線(xiàn)熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來(lái)測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。

形式設計：臺式儀器，測量門(mén)向上開(kāi)啟可編程的工作臺和電調的軸馬達驅動(dòng)的可更換的準直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點(diǎn)（類(lèi)）定位測量點(diǎn)。

測量方向：從上到下。

2、X 射線(xiàn)源

X射線(xiàn)管：帶鈹窗口的微聚焦管

高壓、三檔：10、30、50KV

孔徑（準直器） ：4個(gè)可切換準直器：圓形；長(cháng)方形、可按要求定制其它規格。

基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標準配置：鎳，鋁，無(wú)）

測量點(diǎn)：取決于測量距離及準直器大??；在視頻窗口中顯示實(shí)際的測量點(diǎn)大小。*小的測量點(diǎn)大小約為0.15mm直徑。

測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡(jiǎn)化方法的距離補償測量。如果是特定的應用程序或更高的校準精度要求，校正是必要的。