金屬鍍層測厚儀

金屬鍍層測厚儀

德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線(xiàn)熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線(xiàn)光譜儀。 它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開(kāi)發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無(wú)損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動(dòng)測量。有三個(gè)型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X(jué) / Y平臺，當打開(kāi)防護罩時(shí)，該平臺會(huì )自動(dòng)移到裝載位置。

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀應用實(shí)例：

XDLM測量系統經(jīng)常用來(lái)測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如先進(jìn)或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開(kāi)槽的準直器以獲得大的信號強度。