庫倫法測厚儀菲希爾代理

庫倫法測厚儀菲希爾代理

菲希爾庫倫法測厚儀用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量?jì)x

在一定的厚度以上，X射線(xiàn)熒光對鍍層的無(wú)損測量達到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當簡(jiǎn)單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見(jiàn)的單層和多層鍍層。用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量?jì)x

庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線(xiàn)熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

菲希爾庫倫法測厚儀STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測量

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時(shí)測量電化學(xué)電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時(shí)測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

菲希爾庫倫法測厚儀特性

• 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)

• 根據DIN EN ISO 2177進(jìn)行測量

• 通過(guò)彩色顯示屏和圖形支持的用戶(hù)指南直觀(guān)地操作

• 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

• 針對不同鍍層系統(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設定了近100種測量應用

• 測量單元上電壓曲線(xiàn)的圖形顯示

• 圖形和統計評估

• 帶支撐架的部分自動(dòng)化測量，適用于各種樣品尺寸

• 全面的配件組合，以適應特定的要求