Fischerscope X-ray菲希爾測厚儀

Fischerscope X-ray菲希爾測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD全能選手

XDV®-SDD 是一款真正的全能型儀器，特別適用于測量<0.05µm的極薄鍍層和PPM級范圍內的材料分析。配備了全新的DPP+和功能強大的硅漂移探測器（SDD），這臺多功能儀器可以提供出色的測量結果。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

XDV®-μ是專(zhuān)為微小結構樣品的精確鍍層厚度測量和材料分析而開(kāi)發(fā)。多毛細管光學(xué)器件和 DPP+ 的相互配合使得它能夠在微米級大小的測量點(diǎn)上也能得到優(yōu)秀的信號強度，從而進(jìn)行精準且高重復性的測量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

XDV®-µ LD是業(yè)界優(yōu)質(zhì)的XRF儀器，適用于連接器和電子行業(yè)的鍍層厚度測量和材料分析，特別是對裝配完成的PCB以及形狀復雜的連接器進(jìn)行測量。在擁有12mm的測量距離時(shí)，仍可以實(shí)現最小的測量點(diǎn)，并具有最高的穩定性和信號強度。體驗 DPP+ 與多毛細管光學(xué)系統的結合帶來(lái)的性能提升。