更新時(shí)間:2023-12-25
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廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀鍍金層儀器
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ特點(diǎn)
功能強大的高級型號,用于最小結構和小于 0.1 µm 的最薄涂層的精確涂層厚度測量和材料分析
帶鎢靶的微聚焦射線(xiàn)管;可選鉬靶
4種可切換的濾波器
極其強大的硅漂移探測器,有效面積為20 mm2或50 mm2,可實(shí)現最高精度的薄膜檢測
內部制造的多毛細管光學(xué)元件,最小的測量點(diǎn)可低至 10μm FWHM,測量時(shí)間短,強度高
數字脈沖處理器DPP+,用于提高計數率,減少測量時(shí)間或提高測量結果的重復性
分析從 Al(13) 到 U(92) 的元素,可提供氦氣吹掃,可同時(shí)測量多達24種元素
高精度、可編程的 XY 平臺,定位精度 < 5 µm,可實(shí)現的樣品定位和自動(dòng)圖案識別,實(shí)現最佳的重復精度
典型的應用領(lǐng)域
在非常小的平面元件和結構上進(jìn)行測量,如印刷電路板、觸點(diǎn)或引線(xiàn)框架
測量電子和半導體工業(yè)的功能涂層
分析非常薄的涂層,例如,≤0.1微米的金/鈀涂層
測定復雜的多涂層結構
自動(dòng)測量,例如在質(zhì)量控制中
磁性探頭型號:FGAB1.3-150
內部測量探頭帶微處理芯片。彈性測量系統帶紅寶石尖。適合于直徑 9mm以上的孔。手柄至測量頭的長(cháng)度為 150mm ,等于管子端部到測量點(diǎn)的 距離。
電纜長(cháng)度: 1.5m ( 5’)
測量范圍:0 - 800um(NF/Fe)——0 - 32 mils
測量誤差:-0-200um:1um——200-800um:0.5%
渦流探頭型號:FAI3.3-150
內部測量探頭帶微處理芯片。彈性測量系統帶紅寶石尖。適合于直徑 9mm以上的孔。手柄至測量頭的長(cháng)度為 150mm ,等于管子端部到測量點(diǎn)的 距離。
電纜長(cháng)度: 1.5m ( 5’)
測量范圍:-0 - 800um(ISO/NF)——0 - 32 mils
測量誤差:-0-200um:1um——200-800um:0.5%