Fischer鍍層測厚儀

Fischer鍍層測厚儀

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP

庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線(xiàn)熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

菲希爾鍍層測厚儀STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測量

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時(shí)測量電化學(xué)電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時(shí)測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP特性

1. 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)

2. 根據DIN EN ISO 2177進(jìn)行測量

3. 通過(guò)彩色顯示屏和圖形支持的用戶(hù)指南直觀(guān)地操作

4. 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

5. 針對不同鍍層系統(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設定了近100種測量應用

6. 測量單元上電壓曲線(xiàn)的圖形顯示

7. 圖形和統計評估

8. 帶支撐架的部分自動(dòng)化測量，適用于各種樣品尺寸

9. 全面的配件組合，以適應特定的要求

10. COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

11. 同時(shí)測量鍍層厚度和電位差

12. 根據ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進(jìn)行電位差測試

13. 銀參比電極測量前的準備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)

14. 電解電流可調整

15. 可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線(xiàn)

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP應用

1. 電鍍生產(chǎn)過(guò)程中的監控和成品的進(jìn)廠(chǎng)檢驗

2. 可以準確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據材料不同)

3. 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量

4. 多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層

5. 雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP單鍍層如鐵上鍍鋅

COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應用

1. STEP測試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統