菲希爾鍍層測厚儀X射線(xiàn)

菲希爾鍍層測厚儀X射線(xiàn)

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線(xiàn)熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù)，因此能夠為任何測量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過(guò)軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統中。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500一臺儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備，它還可以轉變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線(xiàn)中。

FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測量技術(shù)的模塊化系統：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。

COULOSCOPE CMS2臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

GOLDSCOPE系列X射線(xiàn)熒光儀器是專(zhuān)為分析黃金和其他貴金屬而設計的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量?jì)x器。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM基于 X 射線(xiàn)熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM / XDAL功能強大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動(dòng)或自動(dòng)測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

FISCHERSCOPE XDV-SDD專(zhuān)為滿(mǎn)足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計

XDV-μ

FISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中微小結構的產(chǎn)品XUVX 射線(xiàn)熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。

FISCHERSCOPE XDL / XDLM / XDAL憑借電機驅動(dòng)（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量?jì)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線(xiàn)源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇*適合的 X 射線(xiàn)儀器。