Fischer|X射線(xiàn)測厚儀

Fischer|X射線(xiàn)測厚儀

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischerscope X-RAY特性：

• X 射線(xiàn)熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)

• Fischerscope X-ray菲希爾X射線(xiàn)測厚儀由于測量距離可以調節（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

• Fischerscope X-ray菲希爾X射線(xiàn)測厚儀通過(guò)可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實(shí)現自動(dòng)化的批量測試

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischer代理應用：鍍層厚度測量

• 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

• 電路板上較薄的導電層和/或隔離層

• 復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

• 鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

• 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

• 材料分析

• 電鍍槽液分析

• 電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析

菲希爾x-ray射線(xiàn)鍍層測厚儀設計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量?jì)x器系列。我們會(huì )根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來(lái)設定不同型號的儀器以滿(mǎn)足實(shí)際應用的需求。Fischerscope X-RAY XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統，篤摯儀器正規代理。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀(guān)察測量過(guò)程和進(jìn)度。配有馬達驅動(dòng)X(jué)-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開(kāi)槽專(zhuān)為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長(cháng)和更寬的樣品。例如大型的線(xiàn)路板。所有的操作，測量數據的計算，以及測量數據報表的清晰顯示都是通過(guò)強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。