更新時(shí)間:2024-02-20
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廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
菲希爾鍍銀層測厚儀|X射線(xiàn)
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過(guò)功能強大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。
FISCHERSCOPE XULM 240 DIN ISO 3497 標準和 ASTM B 568標準。作為保護的儀器,其型式許可符合德國"Deutsche R?ntgenver-ordnung-R?V"法規的規定。
X 射線(xiàn)熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務(wù)
由于測量距離可以調節(大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過(guò)可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實(shí)現自動(dòng)化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
鉻鍍層,如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
電鍍槽液分析
電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析