更新時(shí)間:2024-02-22
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廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
菲希爾熒光射線(xiàn)測厚儀
FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線(xiàn)熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù),能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù),因此能夠為任何測量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過(guò)軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統中。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN500一臺儀器,三種作業(yè)模式:XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備,它還可以轉變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線(xiàn)中。
FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測量技術(shù)的模塊化系統:非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。
COULOSCOPE CMS2臺式測厚儀,幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層(包括多鍍層)的厚度。
GOLDSCOPE系列X射線(xiàn)熒光儀器是專(zhuān)為分析黃金和其他貴金屬而設計的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量?jì)x器。XUL / XULM基于 X 射線(xiàn)熒光法的測試儀器,堅固耐用,快速、高效地測量鍍層厚度,特別適合電鍍行業(yè)。
FISCHER菲希爾測厚儀功能強大:菲希爾X射線(xiàn)測厚儀XDL 系列儀器具有全面的配置方案,可手動(dòng)或自動(dòng)測試,是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專(zhuān)為滿(mǎn)足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計XDV-μFISCHER的XDV-μ型系列儀器,可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中微小結構的產(chǎn)品XUVX 射線(xiàn)熒光儀器,配有用于分析輕元素的真空測量室。XDL / XDLM / XDAL憑借電機驅動(dòng)(可選)與自上而下的測量方向,XDL® 系列測量?jì)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線(xiàn)源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據不同的測量需求選擇*適合的 X 射線(xiàn)儀器。