泰勒霍普森|粗糙度儀SURTRONIC DUO

泰勒霍普森粗糙度儀SURTONIC DUO

SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點(diǎn)：

1. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

2. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO攜帶方便DUO可應(yīng)用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

3. 經(jīng)外接口操作者可在距離被測工件1m處操作測量。

4. 校準(zhǔn)方便DUO具有自身校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，可預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，通過LCD顯示出來。

5. 測針保護(hù)不用時，設(shè)“park"位置可全面保護(hù)測針。

6. 人體工程學(xué)設(shè)計

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO技術(shù)指標(biāo)：

1. Ra(算術(shù)平均偏差，以前稱為CLA或AA)

2. Rz(平均峰谷高度)

3. Rv(采樣長度內(nèi)輪廓線以下的大高度)

4. Rp(采樣長度內(nèi)輪廓線以上的大高度)

5. Rt(剖面大峰谷高度)

6. Rz1max(任何采樣長度內(nèi)的大峰到谷)

7. 偏度-關(guān)于平均線的輪廓對稱度的測量

8. Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))

9. Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)