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    Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

    Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

    簡(jiǎn)要描述:
    Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀,XDL 型X 射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

    更新時(shí)間:2024-02-26

    訪(fǎng)問(wèn)量:391

    廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

    Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

    FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210菲希爾X射線(xiàn)測厚儀典型的應用領(lǐng)域有:

    ? 測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

    ? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

    ? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

    ? 全自動(dòng)測量,如測量印刷線(xiàn)路板

    ? 分析電鍍溶液

    菲希爾X射線(xiàn)測厚儀

    FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希爾X熒光射線(xiàn)測厚儀儀器規格

    外部尺寸 寬x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650

    重量 XDL210:90 kg;XDL220:95 kg ;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg

    內部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品-大高度"部分的說(shuō)明)

    環(huán)境要求

    操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

    儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

    空氣濕度 ≤ 95 %,無(wú)結露


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