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    EPK MINITEST745測厚儀

    EPK MINITEST745測厚儀

    簡(jiǎn)要描述:
    EPK MINITEST745測厚儀,EPK代理,可透過(guò)網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò )更新的內置微數據處理器的SIDSP測頭

    更新時(shí)間:2024-02-27

    訪(fǎng)問(wèn)量:306

    廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

    生產(chǎn)地址:

    品牌ElektroPhysik/德國EPK價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

    EPK MINITEST745測厚儀

    ●MiniTest 745 EPK測厚儀為ERICHSEN新一代的膜厚計,其測頭為新的可透過(guò)網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò )更新的內置微數據處理器的SIDSP測頭
    ●MiniTest 745 EPK測厚儀全系列為可更換式測頭,使用者僅需更換測頭就可以有不同的量程及功能(磁性或非磁性),甚至可以更換為內置式使用或雙用(磁性以及非磁性)測量
    ●LCD屏幕顯示的信息可180度旋轉,
    ●內置數據記憶,可記憶100000筆數據,多分100個(gè)批組,
    ●機器可自行進(jìn)行統計分析
    ●符合的規范有:DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840;ASTM B 244,B 499,D 7091,E 376;AS 3884.3;SS 1841;SSPC- PA2

    EPK測厚儀


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