fischer菲希爾鍍金層測厚儀

fischer菲希爾鍍金層測厚儀

菲希爾X熒光射線(xiàn)測厚儀菲希爾鍍金層測厚儀應用范圍：
菲希爾X熒光射線(xiàn)測厚儀菲希爾鍍金層測厚儀無(wú)論是電鍍廠(chǎng)的簡(jiǎn)單的鍍層厚度測量（例如鐵上鍍鋅），Fischer X射線(xiàn)測厚儀還是鍍液分析，復雜的多鍍層應用， 非常復雜的貴金屬分析或痕量分析（RoHS），一個(gè)軟件程序就可以完成所有的測量應用：WinFTM。

Fischer X射線(xiàn)測厚儀儀器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和FISCHERSCOPE X-RAY XDLM菲希爾X射線(xiàn)測厚儀系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線(xiàn)管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
XDLM型號的X射線(xiàn)源采用微聚焦管，無(wú)錫駿展儀器可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造理想的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，無(wú)錫駿展儀器供應X射線(xiàn)測厚儀由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶(hù)友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。