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    MINITEST3100 EPK測厚儀

    MINITEST3100 EPK測厚儀

    簡(jiǎn)要描述:
    MINITEST3100 EPK測厚儀,用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
    l鋼鐵基體上的非磁性覆層
    l有色金屬上的絕緣覆層
    l絕緣基體上的有色金屬覆層

    更新時(shí)間:2024-03-11

    訪(fǎng)問(wèn)量:209

    廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

    生產(chǎn)地址:

    品牌ElektroPhysik/德國EPK價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域環(huán)保,綜合

    MINITEST3100 EPK測厚儀

    EPK測厚儀MINITEST3100技術(shù)參數:

    技術(shù)特征

    1100

    2100

    3100

    4100

    MINITEST存儲的數據量





    應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

    1

    1

    10

    99

    每個(gè)應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動(dòng)統計計算,可設寬容度極限值)


    1

    10

    98

    可用各自的日期時(shí)間標識特性的組數


    1

    最多500

    最多500

    數據總量

    1

    10000

    10000

    10000

    MINITEST統計計算功能





    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar




    讀數的八種統計值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk



    組統計值六種x,x,n,max,min,kvar




    組統計值八種x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk



    存儲顯示每一應用行下的所有組內數據




    分組打印以上顯示和存儲得數據、統計值



    顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間


    MINITEST 校準方法





    透過(guò)涂層進(jìn)行校準(CTC)


    在粗糙表面上作平均零校準

    利用PC機進(jìn)行基礎校準

    補償一個(gè)常數(OFFSET)



    外設的讀值傳輸存儲功能


    保護并鎖訂校準值

    更換電池時(shí)存儲讀值

    設置極限值



    公英制轉換

    連續測量模式快速測量,通過(guò)模擬柱識別最小值



    連續測量模式中測量穩定后顯示讀值

    浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數據傳送

    無(wú)需連接測頭即可讀數值


    組內單值延遲顯示


    連續測量模式中顯示最小值


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