XDAL237菲希爾X射線測厚儀

XDAL237菲希爾X射線測厚儀

區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

無錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對較小的探測器有效接收面積（相比較比例計數(shù)器探測器來說），信號強度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點的測量。和XDLM類似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造的激勵條件。

德國菲希爾FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大，菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應(yīng)可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置zui高可達140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDAL237測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進行多點測量，或是在多個不同樣品上進行批量測量，都可以通過快速編程自動化地完成。

由于XY平臺在艙門打開時，能自動彈出到加載樣品位置，故而樣品放置定位變得十分簡便。激光點標(biāo)示處就是樣品的測量位置。