EPK MINITEST745

EPK MINITEST745

EPK Minitest745涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應特點(diǎn)

●EPK Minitest745涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應為ERICHSEN新一代的膜厚計，其測頭為新的可透過(guò)網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò )更新的內置微數據處理器的SIDSP測頭

●EPK Minitest745涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應全系列為可更換式測頭，使用者僅需更換測頭就可以有不同的量程及功能（磁性或非磁性），甚至可以更換為內置式使用或雙用（磁性以及非磁性）測量

●EPK Minitest745涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應LCD屏幕顯示的信息可180度旋轉，

●EPK Minitest745涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應內置數據記憶，可記憶100000筆數據，多分100個(gè)批組，

●EPK Minitest745涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應機器可自行進(jìn)行統計分析

●符合的規范有：DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840；ASTM B 244，B 499，D 7091，E 376；AS 3884.3；SS 1841；SSPC- PA2