SURTRONIC S116泰勒粗糙度儀

SURTRONIC S116泰勒粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無(wú)錫駿展儀器供應測試參數：

三個(gè)取樣長(cháng)度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian

評定長(cháng)度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

測試速度：

測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數：

執行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個(gè)參數： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個(gè)參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個(gè)參數：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無(wú)錫駿展儀器供應可選附件

測試平臺：

00級大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

可調Y軸V型鐵

可調范圍：±5mm

V型鐵長(cháng)度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25泰勒霍普森粗糙度儀無(wú)錫駿展儀器有如下改進(jìn)：

1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；

2、顯示屏為觸摸屏；

3、可以顯示測試圖形；

4、SURTRONIC 25只能測試10個(gè)參數，S116在不同標準下可以測量12、11、14個(gè)參數（見(jiàn)技術(shù)參數）；

5、原來(lái)SURTRONIC 25使用電位器校準測試結果，現在改為自動(dòng)軟件校準。方便使用；

6、顯示屏顯示的結果（數據和圖形）可以旋轉，可以方便的從四個(gè)方向觀(guān)察測試結果；

7、儀器底部為V形，測試軸類(lèi)部件方便可靠；

8、測試數據存儲增加了存儲圖形功能；

9、可以使用U盤(pán)直接存儲，一個(gè)4G容量U盤(pán)可存儲3.9萬(wàn)個(gè)圖形，數據可以存儲70批次，每批次為10萬(wàn)個(gè)測試數據。