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    Fischerscope X-ray XDL 220

    Fischerscope X-ray XDL 220

    簡(jiǎn)要描述：
    Fischerscope X-ray XDL 220，XDLM測量系統經(jīng)常用來(lái)測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開(kāi)槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

    更新時(shí)間：2024-03-19

    訪(fǎng)問(wèn)量：284

    廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

    生產(chǎn)地址：

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合

    Fischerscope X-ray XDL 220

    德國菲希爾X射線(xiàn)測厚儀FISCHERSCOPE XDL220特點(diǎn)

    • 堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作

    • 固定光圈和固定濾光鏡

    • 用于1mm起大小的測量點(diǎn)

    • 底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙

    • 可編程的臺式設備，用于自動(dòng)測量

    • 標準X射線(xiàn)管，比例計數器

    德國菲希爾X射線(xiàn)測厚儀FISCHERSCOPE XDL220典型應用領(lǐng)域

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