更新時(shí)間:2024-03-19
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廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
無(wú)錫駿展儀器FISCHERSCOPE X射線(xiàn) XDAL是 XDL系列中好的X射線(xiàn)熒光測量?jì)x器。 和它的“小兄弟"一樣,它是從上到下方向測量的,這使得測試形狀奇怪的樣品也捷,為了優(yōu)化您的任務(wù)的測量條件,配有可互換的準直器和過(guò)濾器作為標準配置。
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀Fischerscope X-RAY XDAL對測量任務(wù)的要求越高,探測器的類(lèi)型就越重要!因此FISCHERSCOPE X射線(xiàn) XDAL提供了3種不同的半導體探測器。
無(wú)錫駿展儀器硅PIN二極管是一種中檔檢測器,非常適合在相對較大的測量區域內測量多個(gè)元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質(zhì)材料涂層。
無(wú)錫駿展儀器與硅PIN二極管相比,高質(zhì)量的硅漂移檢測器(SDD)具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業(yè)中的復雜測量任務(wù):例如,測量或非常相似的元素(如金和鉑)的材料分析。這款值得信賴(lài)的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應用的質(zhì)量控制
無(wú)錫駿展儀器對于特別棘手的挑戰,Fischer還提供帶有超大探測器表面的SDD。該探測器的優(yōu)勢在于它能夠可靠地測量納米級的鍍層,并進(jìn)行痕量分析。使用這些XDAL以測試用于高可靠性應用的焊料中的鉛含量,從而避免錫須。