Fischerscope X-ray XDL210測厚儀

Fischerscope X-ray XDL210測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210菲希爾X射線(xiàn)測厚儀無(wú)錫駿展儀器比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無(wú)論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行分析和測量。多可同時(shí)測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X射線(xiàn)測厚儀型X射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL無(wú)錫駿展儀器菲希爾X射線(xiàn)測厚儀系列儀器特別適用于客戶(hù)經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀無(wú)錫駿展儀器FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210典型的應用領(lǐng)域有：

? 測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動(dòng)測量，如測量印刷線(xiàn)路板

? 分析電鍍溶液