FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 X射線(xiàn)測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 X射線(xiàn)測厚儀

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線(xiàn)光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類(lèi)似，它尤其適合無(wú)損測量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測量大規模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板。

比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無(wú)論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行分析和測量。zui多可同時(shí)測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

無(wú)錫駿展儀器供應FISCHERSCOPE X-RAY XDL 型X 射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

無(wú)錫駿展儀器供應FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列儀器特別適用于客戶(hù)經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。

無(wú)錫駿展儀器供應菲希爾x-ray射線(xiàn)鍍層測厚儀典型的應用領(lǐng)域有：

?測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

?測量薄鍍層，例如裝飾鉻

?測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

?全自動(dòng)測量，如測量印刷線(xiàn)路板

?分析電鍍溶液