測厚儀Fischerscope X-RAY XDL210

測厚儀Fischerscope X-RAY XDL210

FISCHERSCOPE X-RAY XDL無(wú)錫駿展儀器供應采用了基本參數法，因此無(wú)論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。

典型的應用領(lǐng)域有：

• 測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動(dòng)測量，如測量印刷線(xiàn)路板

• 分析電鍍溶液
  

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X射線(xiàn)測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應設計為界面友好的臺式測量?jì)x器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。
XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動(dòng)的 Z 軸系統。

XDL 230 型配有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動(dòng)的 Z 軸升降系統。

XDL 240 型則配備了馬達驅動(dòng)的 X/Y 工作臺，當保護門(mén)開(kāi)啟時(shí)，工作臺會(huì )自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達驅動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統。