菲希爾X鍍層測厚儀

菲希爾X鍍層測厚儀

Fischerscope X-RAY XAN500菲希爾X射線(xiàn)測厚儀是一款可移動(dòng)使用并且應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無(wú)損測量及材料分析。適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。

菲希爾X射線(xiàn)測厚儀fISCHER代理典型的應用領(lǐng)域有：

• 測量大型工件的鍍層，如：機械零件和外殼

• 在電鍍過(guò)程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測量

• 對合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著(zhù)出色的精確性以及長(cháng)期的穩定性，這樣就顯著(zhù)減少了校準儀器所需的時(shí)間和精力。

XAN500采用先進(jìn)的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的基本參數法，可以在沒(méi)有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。