更新時(shí)間：2024-06-17
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廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
菲希爾熒光射線(xiàn)測厚儀FISCHERSCOPE
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特性
X 射線(xiàn)熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)
由于測量距離可以調節（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過(guò)可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實(shí)現自動(dòng)化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY應用
鍍層厚度測量：
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
材料分析：
電鍍槽液分析
蘇公網(wǎng)安備32021402002648
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