Fischer鍍層測厚儀菲希爾

Fischer鍍層測厚儀菲希爾

X 射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀，配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動(dòng)測量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線(xiàn)鍍層測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動(dòng)測量樣品的理想設備。

XDV-SDD菲希爾X射線(xiàn)鍍層測厚儀設計為界面友好的臺式測量?jì)x器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動(dòng)的Z軸升降臺。當具有防護功能的測量門(mén)開(kāi)啟時(shí)，樣品臺能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。通過(guò)激光點(diǎn)，可以快速對準需要測量的位置。儀器內置帶有圖像放大及十字線(xiàn)功能的視頻系統，簡(jiǎn)化了樣品放置的過(guò)程，并可對測量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調。