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    菲希爾鍍層測厚儀|X射線(xiàn)儀器

    菲希爾鍍層測厚儀|X射線(xiàn)儀器

    簡(jiǎn)要描述:
    菲希爾鍍層測厚儀,FISCHER測厚儀,菲希爾代理,Fischer鍍層測厚儀,菲希爾代理,Fischer。

    更新時(shí)間:2024-07-04

    訪(fǎng)問(wèn)量:64

    廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

    菲希爾鍍層測厚儀

    菲希爾X射線(xiàn)測厚儀特點(diǎn):

    XDV-μ/XDV-u-PCB

    1、測量極微小部件結構,如印制線(xiàn)路板、接插件或引線(xiàn)框架等;

    2、分析超薄鍍層,如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層;

    3、測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;

    4、分析復雜的多鍍層系統;

    5、全自動(dòng)測量,如在質(zhì)量控制領(lǐng)域。

    菲希爾鍍層測厚儀|X射線(xiàn)儀器

    適用于無(wú)損分析和測量極微小部件機構上鍍層的厚度,即使是復雜的鍍層結構,也同樣應付自如。

    項目

    XDV-u/XDV-u-PCB

    品牌

    菲希爾

    可分析鍍層數

    可同時(shí)測量23層鍍層,同時(shí)分析24種元素,進(jìn)行厚度測量和材料分析,從Al到U

    計算方法

    采用基本參數法(內置純元素頻譜庫),沒(méi)有標準片也可以測量

    底材影響

    無(wú)損測量鍍層時(shí)不受底材影響

    特點(diǎn)

    能夠顯示mq值(測量品質(zhì)顯示)

    放大倍數

    最高達到1080X (光學(xué)變焦: 30X,90X,270X;數字變焦: 1X,2X,3X,4X)

    可用樣品平臺面積

    寬x深:370mm x 320mm,開(kāi)槽式設計,可測量大面積線(xiàn)路板


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