FISCHERSCOPE XDL230測厚儀

FISCHERSCOPE XDL230測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線(xiàn)測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X 射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板上的鍍層。

XDL 230菲希爾X射線(xiàn)測厚儀特別適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。典型的應用領(lǐng)域有：

• 測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測量印刷線(xiàn)路板

• 分析電鍍溶液

XDL230菲希爾X射線(xiàn)測厚儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

由于采用了FISCHER 基本參數法，因此無(wú)論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行測量和分析。