泰勒霍普森廠(chǎng)家、粗糙度儀DUO代理

泰勒霍普森廠(chǎng)家、粗糙度儀DUO代理

SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點(diǎn)：

快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡(jiǎn)單教授即可

攜帶方便DUO可應用于車(chē)間、實(shí)驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

經(jīng)外接口操作者可在距離被測工件1m處操作測量。

校準方便DUO具有自身校準標準，可預設標準值，通過(guò)LCD顯示出來(lái)。

測針保護不用時(shí)，設“park"位置可全面保護測針。

人體工程學(xué)設計

SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術(shù)指標：

Ra(算術(shù)平均偏差，以前稱(chēng)為CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采樣長(cháng)度內輪廓線(xiàn)以下的大高度)
Rp(采樣長(cháng)度內輪廓線(xiàn)以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采樣長(cháng)度內的大峰到谷)
偏度-關(guān)于平均線(xiàn)的輪廓對稱(chēng)度的測量
Rq(輪廓線(xiàn)與平均線(xiàn)的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)