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    測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

    測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

    簡要描述:
    測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

    更新時間:2024-08-05

    訪問量:174

    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

    測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

    菲希爾X射線測厚儀XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

    菲希爾X射線測厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

    菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

    測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

    測量薄鍍層,例如裝飾鉻

    測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

    全自動測量,如測量印刷線路板

    分析電鍍?nèi)芤?/p>


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