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    FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

    FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

    簡要描述:
    FISCHERSCOPE X-RAY XAN252,高性能X射線熒光測量儀,配有硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

    更新時間:2024-08-06

    訪問量:158

    廠商性質:經(jīng)銷商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進口應用領域環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥,綜合

    FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

    菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252特點

    菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

    高性能機型,具有強大的綜合測量能力

    配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

    配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),還適用于更復雜的多元素分析

    由下至上的測量方向,可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

    典型應用領域

    對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

    對有害物質進行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量

    在珠寶和手表業(yè),以及在金屬精煉領域,對合金進行高精度的分析

    用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域

    FISCHERSCOPE® XDL®

    X射線熒光測試儀,可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件


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