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    菲希爾XAN215 FISCHER

    菲希爾XAN215 FISCHER

    簡要描述:
    菲希爾XAN215 FISCHER,菲希爾代理,F(xiàn)ISCHER鍍層測厚儀,菲希爾臺式測厚儀

    更新時間:2024-08-16

    訪問量:243

    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,綜合

    菲希爾XAN215 FISCHER

    FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215無錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測厚儀是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

    通用規(guī)格
    設(shè)計用途

    采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF),

    用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度

    元素范圍從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。
    重復(fù)性測量金元素時≤1‰,測量時間60秒
    形式設(shè)計臺式儀器,測量門向上開啟
    測量方向由下往上
    X射線源
    X射線管帶鈹窗口的鎢靶射線管
    高壓三檔:30KV,40KV,50KV
    孔徑(準(zhǔn)直器)φ1mm;可選φ2mm
    測量點尺寸當(dāng)測量距離MD=0mm時,測量點直徑=孔徑直徑+200μm
    X射線探測
    X射線探測器采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器

    能量分辨率

    (Mn元素Kα半高寬)

    ≤180eV
    測量距離0...10mm
    通過DCM測量距離補(bǔ)償法,可在不同測量距離上不需要重新校準(zhǔn)就能進(jìn)行測量;對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量,可能需要進(jìn)行額外的校準(zhǔn)。


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