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    菲希爾X射線測厚儀、XAN215

    菲希爾X射線測厚儀、XAN215

    簡要描述:
    菲希爾X射線測厚儀、XAN215,菲希爾臺式測厚儀,F(xiàn)ISCHER代理,菲希爾精密測量儀器

    更新時間:2024-08-27

    訪問量:253

    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

    菲希爾X射線測厚儀、XAN215

    FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,菲希爾X射線測厚儀,Fischer代理減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

    通用規(guī)格
    設(shè)計用途

    采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF),

    用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度

    元素范圍從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。
    重復(fù)性測量金元素時≤1‰,測量時間60秒
    形式設(shè)計臺式儀器,測量門向上開啟
    測量方向由下往上


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