粗糙度儀泰勒S116代理

粗糙度儀泰勒S116代理

技術(shù)參數(shù)

數(shù)據(jù)顯示 ：

顯示屏每頁(yè)顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測(cè)試結(jié)果

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：

儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形

儀器支持U盤(pán)zui大4G，zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬(wàn)個(gè)測(cè)試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無(wú)限數(shù)據(jù)。

電源：

充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時(shí)間：4小時(shí)

電池壽命：充電一次可以做2000次測(cè)試

待機(jī)時(shí)間：5000小時(shí)

由待機(jī)狀態(tài)到開(kāi)機(jī)測(cè)試狀態(tài)，zui長(zhǎng)時(shí)間不超過(guò)1秒I

自動(dòng)關(guān)機(jī)：30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson 

三、技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量范圍：200 um 100 um 10 um 

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 

重復(fù)精度 (Ra) ：1%測(cè)試值+底噪

傳感器原：電感

測(cè)量力：150-300mg

測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描

校準(zhǔn)：

自動(dòng)軟件校準(zhǔn)    標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287