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    菲希爾代理、X射線測厚儀XDL210

    菲希爾代理、X射線測厚儀XDL210

    簡要描述:
    菲希爾代理、X射線測厚儀XDL210,菲希爾臺式測厚儀,F(xiàn)ISCHER代理,菲希爾

    更新時間:2024-09-11

    訪問量:163

    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

    生產(chǎn)地址:

    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

    菲希爾代理、X射線測厚儀XDL210

    菲希爾代理特性:

    X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務(wù)

    由于測量距離可以調(diào)節(jié)(最大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

    通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試

    使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設(shè)備)

    應(yīng)用:

    鍍層厚度測量

    大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

    電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

    復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

    鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

    氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量


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