菲希爾XDLM237 X射線測厚儀

簡要描述：

菲希爾XDLM237 X射線測厚儀，菲希爾臺式測厚儀，F(xiàn)ISCHER代理，F(xiàn)ischer X射線測厚儀

更新時間：2024-10-16

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進口	應用領域	環(huán)保,制藥,綜合

菲希爾XDLM237 X射線測厚儀

　　德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

　　菲希爾X射線測厚儀XDLM237應用實例：

　　XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。