MINITEST730測厚儀

MINITEST730測厚儀

MINITEST730系列：統計型，外置一體式探頭,不可更換探頭

MiniTest 730 F 1.5鐵基涂層，0...1500 µm

MiniTest 730 N 07非鐵基涂層，0...700 µm

MiniTest 730 FN 1.5兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)

MiniTest 730 F2鐵基涂層，0...2000 µm

MiniTest 730 F5鐵基涂層，0...5000 µm

MiniTest 730 N 2.5非鐵基涂層，0...2500 µm

MiniTest 730 FN 5兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)

MiniTest 730 F15鐵基涂層，0...15 mm

EPK涂層測厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線(xiàn)
EPK MINITEST730在消費過(guò)程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)嚴厲的校準。普通的模仿探頭只會(huì )在特征曲線(xiàn)上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過(guò)程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上停止校準，大大降低了特征曲線(xiàn)的偏離。因而特征曲線(xiàn)在整個(gè)量程范圍內都非常精準，將丈量錯誤降至zui低
EPK涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在消費過(guò)程中，對每個(gè)SIDSP探頭都停止了溫度補償的編碼，這關(guān)于模仿探頭是基本不可能完成的。這樣溫度改動(dòng)就不會(huì )影響丈量，與溫度相關(guān)的錯誤不會(huì )在SIDSP探頭上發(fā)作！