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    MINITEST740測厚儀

    MINITEST740測厚儀

    簡(jiǎn)要描述:
    MINITEST740測厚儀,SIDSP是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱(chēng)EPK)研發(fā)的,涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的奠定了新標準。

    更新時(shí)間:2024-03-14

    訪(fǎng)問(wèn)量:238

    廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

    生產(chǎn)地址:

    品牌ElektroPhysik/德國EPK價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域環(huán)保,綜合

    MINITEST740測厚儀

    MiniTest 740 EPK涂層測厚儀無(wú)錫駿展儀器供應為什么選擇SIDSP?
    SIDSP探頭具有抗干擾性
    無(wú)錫駿展儀器供應MINITEST740任何與測量相關(guān)的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號不會(huì )通過(guò)探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長(cháng)的電纜線(xiàn)也沒(méi)問(wèn)題,加長(cháng)的電纜線(xiàn)同樣具有抗干擾能力。

    MiniTest 740 EPK涂層測厚儀 SIDSP-測量信號高穩定性
    EPK的SIDSP探頭具有重現性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結果,再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)良性能。

    MiniTest 740 EPK涂層測厚儀SIDSP探頭特征曲線(xiàn)
    在生產(chǎn)過(guò)程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)嚴格的校準。一般的模擬探頭只會(huì )在特征曲線(xiàn)上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動(dòng)化過(guò)程,探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準,大大降低了特征曲線(xiàn)的偏離。因此特征曲線(xiàn)在整個(gè)量程范圍內都十分精準,將測量錯誤降至低。


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